在双侧限有偏移情况下，过程能力指数Cpk的表达形式有（）。A. min (CpU, CpL) B. Cp(1+ K)D.Cp(1- K)E....

作者: rantiku 人气: - 评论: 0

问题在双侧限有偏移情况下，过程能力指数Cpk的表达形式有（）。 A. min (CpU, CpL) B. Cp(1+ K)

D.Cp(1- K) E. max (CpU，CpL)

选项

答案 ACD

解析产品质量特性值分布的均值u与公差中心M不重合，即有偏移时，不合格品率必然增大，Cp值降低。修正后的过程能力指数Cpk的计算公式为Cpk=min (CpU, CpL)；若记分布中心u对于公差中心M的偏移ε= M-u ，则过程能力指数修正为：Cpk =

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